F-200A系列半导体器件通用测试机

DF-200A系列半导体器件通用测试机简介

DF-200系列半导体器件测试机专为以下测试需求研制：

1.硅整流二极管、肖特基二极管、高压硅堆、MOS体二极管/IGBT内建二极管及其他二端器件正向压降测试，测试电流范围宽；并可通过上位机绘制曲线，便于不同器件特性比对/配对；

2.MOSFET/IGBT VDS-ID曲线测试，内置高精度PID环栅极驱动电源，栅极电压输出精度可达±1mV。并可通过上位机绘制曲线，便于不同器件特性比对/配对；

3.MOSFET/IGBT 栅极漏电流测试，内置高精度PID环栅极驱动电源，栅极电压输出精度高。一键zero校零技术，补偿测试导线引入的漏电电流，漏电分辨率可达100pA；一键charge功能，快速充电，提升栅极电容充电速率，快速得到漏电结果。

4．MOSFET/IGBT  栅极端口电容测试，快速辨别器件真伪；

5. 一键全测技术，MOS/IGBT一次性连接，通过上位机软件可以一键一次测定所有参数，

如 VDS-ID@VGE曲线（输出特性）、VF-ID曲线（内建二极管压降）、IGDSF（栅极正向漏电）、IGESR（栅极反向漏电）、Cin(栅极输入电容)参数；配合高压测试选件，还可测试漏极漏电流参数（电压0-2000V）。可生成pdf格式的器件检测报告，且可存入数据库储存。

6.高度扩展性，机器具有option选件接口，可购买各种选件增加测试项目；

  6-1 高压测试选件:机器增加该选件后增加击穿电压测试功能（0-2000V）,漏电流测试范围100 nA-100uA;

  6-2 电容触屏选件：机器增加该选件后可通过10.1寸电容触控大屏操作。可用于显示筛选统计表格等进阶功能。

机器硬件选件总线形式连接，可级联使用多个选件。

7.灵活的通信控制方式:

7-1机器可脱机运行，独立手动测量每个项目；带有脚踏开关，可手动按触发按钮，也可用脚踏开关触发；

7-2 机器带有一路光隔离的RS-485通讯端口，可十分方便与PLC、单片机、触摸屏、计算机等设备通讯；RS-485具有可设置的地址，可实现多机并联，自动化测试复杂器件；例如使用六台机器可一次测试三相IGBT模块的6个通道功能特性；RS-485通讯协议简单，只需要几条指令便可使用机器各项功能。

7-3 机器带有LAN以太网接口，可实现内网通讯，方便与计算机低成本通信。LAN口采用与RS-485相似的通讯协议，TCP连接；机器内还内建一个微型web服务器，可从电脑浏览器访问查看本机状态。

7-4 机器后带有一路TRIG接口，可连接行程开关等实现自动化测量；该接口还可输出pass、fail信号，方便连接至流水线式筛选机筛选器件。

8.在线免拆升级功能

   本机可通过RS-485接口烧写升降级软件版本，不用回寄机器，在最终客户处即可实现软件升降级，方便最终客户现场组件测试平台。

   本机还具有错误固件恢复功能，可放心刷写任何版本固件，当固件由于各种原因出错时可启动恢复功能，不必担心把机器刷成砖。

DF-200系列半导体测试机正面图

为简化测试操作，本机器采用如下的界面设计

1.七档可调亮度的大尺寸LED数码管显示，显示关键信息；

2.功能、设置按键单独设立，且菜单深度只有一层，通过旋钮调节指定参数；

3.待设定的参数可通过左右键切换LED灯选择参数档位，修改测量值非常容易；

4.不同单位采用LED灯指示。

DF-200系列半导体测试机背面图

通讯接口位于机器后侧，可连接脚踏开关、以太网、RS-485、选件接口。